各有关单位:
《电子封装用高硅铝合金化学分析方法痕量杂质元素的测定 辉光放电质谱法》团体标准已按规定程序完成制定,现于2025年10月1日首次批准发布。该标准自发布之日起生效,标准名称及标准号信息如下:
序号 | 标准名称 | 标准号 |
1 | 电子封装用高硅铝合金化学分析方法 痕量杂质元素的测定 辉光放电质谱法 | T/COS028-2025 |
特此通告。
关于批准发布《电子封装用高硅铝合金化学分析方法 痕量杂质元素的测定 辉光放电质谱法》团体标准通知.pdf
